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  • DELTA-T植物冠层分析仪采用国际上一致采用的原理(比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理),通过专用鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像,利用软件对所得图像和数据进行分析计算,得出冠层相关指标和参数。具有精确、省时省力、快捷方便的特点。
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  • HemiView叶面图像分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
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  • SunScan专业版冠层分析仪采用国际上一致采用的原理(比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理),通过专用鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像,利用软件对所得图像和数据进行分析计算,得出冠层相关指标和参数。具有精确、省时省力、快捷方便的特点。
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  • HemiView植物图像分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
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  • SunScan植物冠层分析仪采用国际上一致采用的原理(比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理),通过专用鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像,利用软件对所得图像和数据进行分析计算,得出冠层相关指标和参数。具有精确、省时省力、快捷方便的特点。
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  • SunScan植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照条件下进行测量工作(但是尽量是在接近中午的时候)。专业版比标准版配置上增加了BF5日照传感器,用来参照测量直接和散射的入射光,提高测量精度。
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